UKR ENG
«ПАТЕНТБЮРО» Web-журнал «Інтелектус» Інноватика & Комерціалізація Американський інститут стандартів запропонував "лінійку" для...
ТЕМПОРАЛОГІЯ
ІНТЕЛЕКТУАЛЬНА ВЛАСНІСТЬ
ІНТЕЛІГІБІЛІЗАЦІЯ
СИМВОЛІКА & ГЕРАЛЬДИКА
* МАТРИКУЛ
ІНФОРМЕРИ

Американський інститут стандартів запропонував "лінійку" для наноінженерів

Національний інститут стандартів США (NIST) запропонував прилад для вимірювання нановідстаней, повідомляє New Scientist. "Нанолінійка" з кремнію дозволяє оцінювати розміри мікрооб'єктів з точністю до 0,3 нанометра, що порівняно з діаметром атома радону і всього втричі більше діаметру атома водню.

 

Збільшений фрагмент показує лінії матриці 0.3 нм окремо на блоці, що вимірює 40 нм x 275 нм

 

 

Принцип використання нанолінійки простий: мікрооб'єкт і прилад поєднуються у полі зору електронного мікроскопу, а потім підраховується число шарів кристалічних матриць кремнію, що перетинаються досліджуваним предметом.

Не дивлячись на уявну очевидність такого рішення, ученим довелося згаяти немало часу на пошук відповідного матеріалу. "Конкурс" виграв кремній - завдяки "зручним" кристаллографічним характеристикам, достатньому розміру атомів та легкості виготовлення правильних нанокристалів.

Майкл Кресвел (Michael Cresswell) з NIST, один з розробників приладу, стверджує, що масове виготовлення лінійок, довжина яких лежить в діапазоні від 40 до 275 нанометрів, не представляє складності. Новий інструмент повинен спростити роботу наноінженерів, традиційні калібрувальні прилади яких володіють в 7 разів меншою точністю.

За амтеріалами Lenta.ru із Nanoscopic 'ruler' could provide microchip benchmark - New Scientist, 25.02.2005

Висловити думку в Форумі

Читайте також: