![]() |
SERVICES OF PATENTBUREAU Barcode services |
INTELLECTUS
Symbolics of Prydniprov'ia |
PORTFOLIO Elaboration of symbolics |
|---|
|
|||
|---|---|---|---|
PATENTBUREAU |
|||
|
INFORMERS
|
Американський інститут стандартів запропонував "лінійку" для наноінженерівНаціональний інститут стандартів США (NIST) запропонував прилад для вимірювання нановідстаней, повідомляє New Scientist. "Нанолінійка" з кремнію дозволяє оцінювати розміри мікрооб'єктів з точністю до 0,3 нанометра, що порівняно з діаметром атома радону і всього втричі більше діаметру атома водню.
Збільшений фрагмент показує лінії матриці 0.3 нм окремо на блоці, що вимірює 40 нм x 275 нм
Принцип використання нанолінійки простий: мікрооб'єкт і прилад поєднуються у полі зору електронного мікроскопу, а потім підраховується число шарів кристалічних матриць кремнію, що перетинаються досліджуваним предметом. Не дивлячись на уявну очевидність такого рішення, ученим довелося згаяти немало часу на пошук відповідного матеріалу. "Конкурс" виграв кремній - завдяки "зручним" кристаллографічним характеристикам, достатньому розміру атомів та легкості виготовлення правильних нанокристалів. Майкл Кресвел (Michael Cresswell) з NIST, один з розробників приладу, стверджує, що масове виготовлення лінійок, довжина яких лежить в діапазоні від 40 до 275 нанометрів, не представляє складності. Новий інструмент повинен спростити роботу наноінженерів, традиційні калібрувальні прилади яких володіють в 7 разів меншою точністю. За амтеріалами Lenta.ru із Nanoscopic 'ruler' could provide microchip benchmark - New Scientist, 25.02.2005 Читайте також: |
|
|
|||
Ukraine, 49000, Dnipro, Voskresenska str, 12/4
E-mail:
Skype: patentbureau |
|
||